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Defect analysis in electron microscopy / M. H. Loretto and R. E. Smallman.
Tipo de material:
TextoDetalhes da publicação: London : Chapman and Hall ; New York : Wiley : distributed by Halstead Press, c1975.Descrição: ix, 134 p. : ill. ; 24 cmISBN: - 0412137607.
- 0412137704
- 548.84 19
- QD921 .L67
| Tipo de material | Biblioteca atual | Coleção | Número de chamada | Situação | Código de barras | |
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Livro
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Biblioteca do INPA E47_P05 | Obras Gerais | 548.84 L869 (Percorrer estante(Abre abaixo)) | Disponível | 76-2320 |
Percorrer Biblioteca do INPA estante, Localização na estante: E47_P05, Coleção: Obras Gerais Fechar navegador de prateleira (Oculta o navegador da estante)
"A Halsted Press book."
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