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	1.	Imagem de capa personalizada	Defect analysis in electron microscopy / M. H. Loretto and R. E. Smallman. por Loretto, M. H Smallman, R. E [joint author.] Tipo de material: Texto; Formato: imprimir ; Forma literária: Não ficção Detalhes da publicação: London : New York : Chapman and Hall ; Wiley : distributed by Halstead Press, c1975 Disponibilidade: Exemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca do INPA (1)Número de chamada: 548.84 L869. Reservar Salvar nas listas Adicionar no carrinho (Remover)
	2.	Imagem de capa personalizada	Advances in liquid crystals. Tipo de material: Recursos contínuos; Formato: imprimir Detalhes da publicação: New York, Academic Press. Disponibilidade: Exemplares disponíveis para empréstimo: Biblioteca do INPA (1)Número de chamada: 548.9 B878. Reservar Salvar nas listas Adicionar no carrinho (Remover)

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